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        JQLD-1精密光電露點儀
        產品簡介:該儀器采用濕度絕對測量方法-露點法原理進行測量,通過半導體制冷、鏡面冷凝、光電檢測方法精密地測量氣體的露點濕度。
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        功能及應用范圍:
           該儀器采用濕度絕對測量方法-露點法原理進行測量,通過半導體制冷、鏡面冷凝、光電檢測方法精密地測量氣體的露點濕度。
        該儀器滿足濕度傳遞標準的技術要求,可以廣泛應用于空氣、氮氣等非腐蝕非爆炸性氣體的濕度測量,以及環境溫濕度的測量、濕度測量儀器、濕度發生器、濕度傳感器、環境試驗箱的校準及測試工作

        技術指標: 
          露點濕度測量范圍及最大允差:
        (-20~+40)℃,MPE: ±0.2℃
        (-50~-20)℃,MPE: ±0.3℃
        (-70~-50)℃,MPE: ±0.5℃
        溫度測量范圍及最大允差:
        (-40~+90)℃,MPE: ±0.1℃
        根據工作范圍可選以下露點傳感器:
        (1) A型露點傳感器:
        (-10~+40)℃,自然散熱
        (2) B型露點傳感器:
        (-50~+20)℃,風冷散熱
        (3) C型露點傳感器:
        (-70~+20)℃,風冷與水冷散熱
        。

          露點濕度測量范圍及最大允差:
        (-20~+40)℃,MPE: ±0.2℃
        (-50~-20)℃,MPE: ±0.3℃
        (-70~-50)℃,MPE: ±0.5℃
        溫度測量范圍及最大允差:
        (-40~+90)℃,MPE: ±0.1℃
        根據工作范圍可選以下露點傳感器:
        (1) A型露點傳感器:
        (-10~+40)℃,自然散熱
        (2) B型露點傳感器:
        (-50~+20)℃,風冷散熱
        (3) C型露點傳感器:
        (-70~+20)℃,風冷與水冷散熱
        。
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